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相关配件 |
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KH3440 |
高速SMD晶体分选机 |
- 多头式測試头以加快分选速度。
- 支持細尺寸SMD晶体由3225 至1210。
- 选項: 激光打標 , 编帶封裝。
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已停产 |
KS300 |
桌上型晶体分选仪 |
- 不需用压缩空气, 特别适合晶体代理商 / 供应商, 来料检查 (IQC), 抽检等工作。
- 系统测量主机为 KH1800 或 KH1820 高精度π网络测试仪, 超快速寄生及 DLD 测量。
- π网络测试仪是由频率综合器和矢量电压表组成，采用 IEC60444-5 及 IEC60444-6 国际标准。
- 快速激励电平依赖性(DLD) 测量 (10 个 DLD 测试点约 0.5 秒）。
- 软件操作是在 Windows 环境下进行的， 它有清晰的图形功能和打印功能。
- 无需作特别调整便可十分方便地分选 HC-49U 和 HC-49US 两种晶体。(如测 UM 晶体, 可选购 KS300-UM)。
- 系统可测试晶体的所有参数。
- 系统设有合格与不合格二个分选档。(选项：4 选)
- 系统有多种分选结果的报告格式可供客户选用。
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已停产 |
KS330 |
桌上型 49S-SMD 晶体分选仪 |
- 不需用压缩空气, 特别适合晶体代理商 / 供应商, 来料检查 (IQC), 抽检等工作。
- 系统测量主机为 KH1800 或 KH1820 高精度π网络测试仪, 超快速寄生及 DLD 测量。
- π网络测试仪是由频率综合器和矢量电压表组成，采用 IEC60444-5 及 IEC60444-6 国际标准。
- 快速激励电平依赖性(DLD) 测量 (10 个 DLD 测试点约 0.5 秒）。
- 软件操作是在 Windows 环境下进行的， 功能和打印功能。
- 无需作特别调整便可十分方便地分选 不同高度的 HC49US-SMD 晶体。
- 可测 HC49US 短脚晶体(脚长小于 5mm)
- 系统可测试晶体的所有参数, 分选合格与不合格二档。(选项：4 档分选)
- 系统有多种分选结果的报告格式可供客户选用。
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已停产 |
KT338 |
实用型 SMD 分选机 |
- 不需用压缩空气 (内置电泵)。
- 系统测量主机为 KH1800 或 KH1820 高精度π网络测试仪, 超快速寄生及 DLD 测量。
- π网络测试仪是由频率综合器和矢量电压表组成，采用 IEC60444-5 及 IEC60444-6 国际标准。
- 快速激励电平依赖性(DLD) 测量 (20 个 DLD 测试点约 0.5 秒）。
- 软件操作是在 Windows环境下进行的， 它有清晰的图形功能和打印功能。
- 只需作简单调整，便可十分方便地分选 不同封装 SMD 晶体。
- 可测陶瓷 SMD 体 ( 7×5, 6×3.5, 5×3.2,4×2.5, 3×2.5)。
- 系统可测试晶体的所有参数, 分选合格与不合格二档。(选项: 五档分选)
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